儀器簡介：功能：配置多項拓展功能，能實現掃描/平行成像、XPS采譜、角分辨XPS、刻蝕深度剖析、REELS、UPS、ISS等多項功能。優勢：配置高達0.44 eV能量分辨率的半球能量分析···
儀器簡介：功能：通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量。最高分辨率達10 nm，可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能，可測量材料線粗糙度及面粗糙度。···
儀器簡介：功能：測量液滴與表面之間的粘附力；測量液體的表面/界面張力并分析表面張力中的極性力與色散力；測量固體材料（薄膜、片、棒，纖維、粉末）的接觸角；計算固體材···
儀器簡介：功能：臺階高度、粗糙度、波紋度、翹曲度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌測量及分析。低測定力模式不僅能夠避免劃傷樣品，也能對于軟性樣品進行測試，適合于各···
儀器簡介：功能：快速、可靠地測量大部分半透明或具有輕微吸收性的薄膜材料厚度、光學常數、表面粗糙度。優勢： 實時測量和分析各種多層次的、薄的、厚的，獨立的和不均勻的···
儀器簡介：功能：AFM常用于測量樣品表面納米級形貌結構及表面粗糙度信息，同時配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模塊，可獲取材料納米尺度的楊氏模量、粘滯力、壓電特性···
