儀器簡介:功能特點(diǎn):SEM主要用于固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。它既可以觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在微米、納米級(jí)樣品的表面特征,配備的EDS也可以支持點(diǎn)、線及面上的元素掃描,能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。。優(yōu)勢:SU8220冷場掃描電鏡采用全新設(shè)計(jì)的冷場發(fā)射電子槍大幅提高了探針
2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 微區(qū)分析 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 電子顯微鏡