儀器簡介:功能特點(diǎn):TEM用于觀察樣品內(nèi)部組織形貌,特別適用于對納米級樣品的觀測;具有結(jié)構(gòu)相的樣品,能在高倍數(shù)下觀測到晶格條紋。其中,STEM綜合掃描和普通透射電子分析的特點(diǎn),可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣,得到原子序數(shù)襯度像。EDS支持點(diǎn)、線及面上的元素掃描,能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。優(yōu)勢:FEI Talos F200
2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 微區(qū)分析 場發(fā)射透射電子顯微鏡